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http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174
metadata.dc.type: | Relatório de Pesquisa |
Title: | Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A |
metadata.dc.creator: | Aercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira |
metadata.dc.contributor.advisor1: | Sérgio Michielon de Souza |
metadata.dc.description.resumo: | Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas. Difração de raio-x em função da temperatura. Analise termidinâmica e determinação das equações de estados. |
Keywords: | Mecanoquimica Difração de raios x Altas pressões |
metadata.dc.subject.cnpq: | CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA: FÍSICA |
metadata.dc.language: | pt_BR |
metadata.dc.publisher.country: | Brasil |
Publisher: | Universidade Federal do Amazonas |
metadata.dc.publisher.initials: | UFAM |
metadata.dc.publisher.department: | Física Instituto de Ciências Exatas |
metadata.dc.publisher.program: | PROGRAMA PIBIC 2015 |
metadata.dc.rights: | Acesso Aberto |
URI: | http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174 |
Issue Date: | 31-Jul-2016 |
Appears in Collections: | Relatórios finais de Iniciação Científica - Ciências Exatas e da Terra |
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