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http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174
Tipo de documento: | Relatório de Pesquisa |
Título: | Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A |
Autor(a): | Aercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira |
Orientador(a): | Sérgio Michielon de Souza |
Resumo: | Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas. Difração de raio-x em função da temperatura. Analise termidinâmica e determinação das equações de estados. |
Palavras-chave: | Mecanoquimica Difração de raios x Altas pressões |
Área de conhecimento - CNPQ: | CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA: FÍSICA |
Idioma: | pt_BR |
País de publicação: | Brasil |
Editor: | Universidade Federal do Amazonas |
Sigla da Instituição: | UFAM |
Faculdade, Instituto ou Departamento: | Física Instituto de Ciências Exatas |
Nome do programa: | PROGRAMA PIBIC 2015 |
Tipo de acesso: | Acesso Aberto |
URI: | http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174 |
Data do documento: | 31-jul-2016 |
Aparece nas coleções: | Relatórios finais de Iniciação Científica - Ciências Exatas e da Terra |
Arquivos associados a este item:
Arquivo | Tamanho | Formato | |
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Relatorio_Final_IC_aercio_2016.pdf | 468,04 kB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
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