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Fecha de publicación | Título | Autor(es) | Tipo |
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31-jul-2016 | Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A | Aercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira | Relatório de Pesquisa |