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http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174| Tipo de documento: | Relatório de Pesquisa |
| Título: | Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A |
| Autor(a): | Aercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira |
| Orientador(a): | Sérgio Michielon de Souza |
| Resumo: | Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas. Difração de raio-x em função da temperatura. Analise termidinâmica e determinação das equações de estados. |
| Palavras-chave: | Mecanoquimica Difração de raios x Altas pressões |
| Área de conhecimento - CNPQ: | CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA: FÍSICA |
| Idioma: | pt_BR |
| País de publicação: | Brasil |
| Editor: | Universidade Federal do Amazonas |
| Sigla da Instituição: | UFAM |
| Faculdade, Instituto ou Departamento: | Física Instituto de Ciências Exatas |
| Nome do programa: | PROGRAMA PIBIC 2015 |
| Tipo de acesso: | Acesso Aberto |
| URI: | http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174 |
| Data do documento: | 31-jul-2016 |
| Aparece nas coleções: | Relatórios finais de Iniciação Científica - Ciências Exatas e da Terra |
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| Arquivo | Tamanho | Formato | |
|---|---|---|---|
| Relatorio_Final_IC_aercio_2016.pdf | 468,04 kB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |
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