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Tipo de documento: Relatório de Pesquisa
Título: Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A.
metadata.dc.creator: Aercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira
metadata.dc.contributor.advisor1: Sérgio Michielon de Souza
Resumo: Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas. Difração de raio-x em função da temperatura. Analise termidinâmica e determinação das equações de estados.
Resumo em outro idioma: 
Palavras-chave: Mecanoquimica
Difração de raios x
altas pressões
Área de conhecimento - CNPQ: Ciências Exatas e da Terra: Fisica da Materia Condensada
Idioma: pt_BR
metadata.dc.publisher.country: Brasil
Editor: Universidade Federal do Amazonas
metadata.dc.publisher.initials: UFAM
metadata.dc.publisher.department: Física
Instituto de Ciências Exatas
metadata.dc.publisher.program: PROGRAMA PIBIC 2015
Tipo de acesso: Acesso Restrito
URI: http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174
Data do documento: 31-jul-2016
Aparece nas coleções:Relatórios finais de Iniciação Científica

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