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Campo DCValorIdioma
dc.contributor.advisor1Sérgio Michielon de Souza-
dc.creatorAercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira-
dc.date.accessioned2017-05-29T18:34:05Z-
dc.date.available2017-05-29T18:34:05Z-
dc.date.issued2016-07-31-
dc.identifier.urihttp://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174-
dc.description.resumoEste trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas. Difração de raio-x em função da temperatura. Analise termidinâmica e determinação das equações de estados.pt_BR
dc.description.sponsorshipCNPQpt_BR
dc.formatPDF-
dc.languagept_BRpt_BR
dc.publisherUniversidade Federal do Amazonaspt_BR
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.departmentFísicapt_BR
dc.publisher.departmentInstituto de Ciências Exataspt_BR
dc.publisher.programPROGRAMA PIBIC 2015pt_BR
dc.publisher.initialsUFAMpt_BR
dc.rightsAcesso Abertopt_BR
dc.subjectMecanoquimica-
dc.subjectDifração de raios x-
dc.subjectAltas pressões-
dc.subject.cnpqCIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA: FÍSICApt_BR
dc.titleDifração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6Apt_BR
dc.typeRelatório de Pesquisapt_BR
dc.pibic.cursoFísica - Bachareladopt_BR
dc.pibic.nrprojetoPIB-E/0215/2015-
dc.pibic.projetoDifração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A-
dc.pibic.dtinicio2015-08-01-
dc.pibic.dtfim2016-07-31-
Aparece nas coleções:Relatórios finais de Iniciação Científica - Ciências Exatas e da Terra

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