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metadata.dc.type: Relatório de Pesquisa
Title: Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A
metadata.dc.creator: Aercio Filipe Franklim de Figueiredo Pereira
metadata.dc.contributor.advisor1: Sérgio Michielon de Souza
metadata.dc.description.resumo: Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas. Difração de raio-x em função da temperatura. Analise termidinâmica e determinação das equações de estados.
Keywords: Mecanoquimica
Difração de raios x
Altas pressões
metadata.dc.subject.cnpq: CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA: FÍSICA
metadata.dc.language: pt_BR
metadata.dc.publisher.country: Brasil
Publisher: Universidade Federal do Amazonas
metadata.dc.publisher.initials: UFAM
metadata.dc.publisher.department: Física
Instituto de Ciências Exatas
metadata.dc.publisher.program: PROGRAMA PIBIC 2015
metadata.dc.rights: Acesso Aberto
URI: http://riu.ufam.edu.br/handle/prefix/5174
Issue Date: 31-Jul-2016
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