Difração de raios x in situ, em altas temperaturas e altas pressões aplicados a semicondutores lamelares da família 4A-6A
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Este trabalho resume-se na síntese e caracterização de materiais termoelétricos compostos por elementos da família 4A-6A por diferentes rotas, em especial a mecanoquímica. Aplicação do método de Rietveld. Difração de raios x por transmissão em função da pressão e medidas espectroscópicas.
Difração de raio-x em função da temperatura.
Analise termidinâmica e determinação das equações de estados.
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Termo controlado
Objetivos de Desenvolvimento Sustentável (ODS)
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